set_scan_configuration 此命令用于指定扫描属性,例如: 扫描方式、扫描链数或扫描链长度、处理多个时钟、lock-up、扫描链中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...
一 Scan Chain基础 二 基础Scan Insertion流程 三 Tester Timing 四 DFT Rules, DRC andAutoFix 五 UDTP 六 Scan Architecture 七 Clock Gating Cell Connection 八 ATSPEED Test amp OCC 九 HSS Flow 十 Multi Mode Scan 十一 Scan Co ...
2020-12-25 18:15 1 553 推荐指数:
set_scan_configuration 此命令用于指定扫描属性,例如: 扫描方式、扫描链数或扫描链长度、处理多个时钟、lock-up、扫描链中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...
UDTP(user defined test point) 指示DFTC在设计中用户指定的位置插入控制点和观察点 1.为什么要使用UDTP? 修复无法控制的clock和/或asynch pins ...
synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 将原始的scan chain分割为更短的scan chain。较短的链条加载时间更少,并且更少的数据加载到测试仪上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX运行中,压缩和常规扫描模式 ...
test_model | scan_enable -sequential_c ...
AT SPEED Test last_shift launch mode (低速测试) system_clock launch mode ( launch on capture) 1. ...
现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan ...
现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan test 只能检测出制造瑕疵 ...
SCAN命令可以为用户保证:从完整遍历开始直到完整遍历结束期间,一直存在于数据集内的所有元素都会被完整遍历返回,但是同一个元素可能会被返回多次。如果一个元素是在迭代过程中被添加到数据集的,又或者是在迭代过程中从数据集中被删除的,那么这个元素可能会被返回,也可能不会返回。 这是如何实现的呢,先从 ...