scan & ATPG
Testability用来表征一个manufactured design的quality。 将testability放在ASIC前端来做，成为DFT(Design For Test)，用可控(con ...
原文：Scan and ATPG (Tessent)----1.基础概念
测试的目的 筛选出有错误的芯片。 测试的类型 功能测试 验证电路的功能。 制造测试 验证设计有没有制造缺陷 制造试验类型： 扫描测试 扫描压缩测试 BIST Memory test Logic test 什么是scan test 使内部电路可控 可观测。 制造缺陷 短路 断路 桥接等，port短路到 逻辑单元翻转转速度不正常 路径延迟不正常等 测试中使用的常见故障模型 Stuck at 最常见 ...
2020-12-17 12:15 0 1634 推荐指数：
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