原文:DFT 问答(转)

Q:Boundary Scan是什么 应用场景是什么 实现的方法是什么 挑战是什么 A:Boundary Scan就是边界扫描,是由Joint Test action Group起草的规范,最初是为了解决板级芯片之间的互联测试的问题,实现方法就是在芯片内部的每个I O上面加上一个Boundary Scan cell用于控制和观测每个I O的状态,然后把每个I O的bscell串连起来交由TAP控制 ...

2020-09-11 14:51 0 989 推荐指数:

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DFT 问答 III

1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的 ...

Sat Sep 07 19:40:00 CST 2019 0 614
DFT 问答 I

Q: Boundary Scan是什么?应用场景是什么?实现的方法是什么?挑战是什么? A: Boundary Scan就是边界扫描,是由Joint Test action Group起草的规范,最 ...

Sat Sep 07 18:06:00 CST 2019 1 394
DFT

  Design For testability   DFT(Design for Test):可测试性设计(DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易,   这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测 ...

Sun Aug 30 23:12:00 CST 2020 0 593
DFT

1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的 ...

Fri Sep 11 22:58:00 CST 2020 0 444
DFT小讲座之6_ATE测试扫盲

TE【1】从设计流程上来说,是DFT的客户。DFT逻辑设计的合理性,有效性乃至便捷性都需要通过TE的最终真刀实枪的上了机台才见分晓。 可以说TE是检测DFT成绩的最直接部门。 无论哪行哪业,要想做到出色,了解客户的需求是绕不开的一个大项。作为DFTer ...

Thu Jan 31 00:46:00 CST 2019 0 728
DFT介绍

1. 可测试性特点 可控性:能够设定某些电路节点到某种状态或逻辑值 可观察:能够观测芯片内部节点的状态或逻辑值 2. 如何测试 1)建立模型 电路建模(circuit mo ...

Tue Sep 04 22:57:00 CST 2018 0 1022
DFT与IDFT

】https://blog.csdn.net/mingzhuo_126/article/details/88044390 二.编程实现考滤到DFT和IDFT算法过程中有部分相似,可以把它们合成到一个算法。 下面验证此算法,对X(n ...

Tue Nov 19 21:21:00 CST 2019 0 283
 
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