Nor Flash是Intel在1988年推出的非易失闪存芯片,可随机读取,擦写时间长,可以擦写1~100W次,支持XIP(eXecute In Place)。 本文以JS28F512M29EWH为例分析Nor Flash芯片的特性以及读、擦、写、查询等操作的具体实现原理。 1、芯片特性 ...
flash操作不同于sram,sram类似于在使用ram ip核 quartus vivado 时生成的模块直接对存储操作,flash操作都是基于控制器的指令来的。flash在编程 写数据 之前是需要对芯片擦除 也就是写 ,因为编程操作只能把 变成 ,而不能把原本是 的位变成 。 基本的命令:擦除命令 编程命令 读取命令 读取命令分为读取数据和读取寄存器 基本操作格式:命令 地址 数据 地址和数 ...
2020-05-20 08:40 0 660 推荐指数:
Nor Flash是Intel在1988年推出的非易失闪存芯片,可随机读取,擦写时间长,可以擦写1~100W次,支持XIP(eXecute In Place)。 本文以JS28F512M29EWH为例分析Nor Flash芯片的特性以及读、擦、写、查询等操作的具体实现原理。 1、芯片特性 ...
Nand flash 芯片型号为 Samsung K9F1208U0B,数据存储容量为 64MB,采用块页式存储管理。8 个 I/O 引脚充当数据、地址、命令的复用端口。 芯片内部存储布局及存储操作特点 一片 Nand flash 为一个设备(device), 其数据存储 ...
首先声明,手册上给出的FlashSize地址是错误的,正确的应该是0x1FFF7A20,取高16位。确切说应该是(0x1FFF7A23,0x1FFF7A22两个字节), 芯片的这96位ID是产品唯一身份标识。可以从特定的寄存器中读出来。FlashSize表示内部flash的大小,也是固化在芯片 ...
1、IIC EEPROM------容量小,采用的是IIC通信协议;用于在掉电时,存系统配置参数,比如屏幕亮度等。常用芯片型号有 AT24C02、FM24C02、CAT24C02等,其常见的封装多为DIP8,SOP8,TSSOP8等; 2、SPI NorFlash------容量略大,采用 ...
VLSI芯片测试 1. 芯片测试 在讲解具体的芯片测试的分治策略算法之前,先来了解芯片测试的意思。 1.1 一次测试的过程 如上图,A、B为芯片。测试方法为:将2片芯片(A和B)置于测试台上,互相进行测试,测试报告是“好”或者“坏”,只取其一。 假设:好芯片的报告一定是正确的,坏 ...
不是自己测得,摘自网络。 测试的flash型号是sst39vf160,由于测试时间的问题,只测试了一个扇区4个字节,用了整整一个星期才完成所有测试,测试结果总结如下: 1、flash有寿命限制,sst39vf160手册上说是10万次,实验片的实测却超过80万次。 2、每一个位的寿命 ...
的工具了。 准备 要烧写程序或读取程序的的Flash芯片:SPI协议的Flash都可以,如W25 ...
问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片 ...