【整理中】半导体理论及IC工艺
一、PVT （Process Voltage Temperature） 电压、温度 和 工艺情况等条件组合，形成 PVT(Process、Voltage、Temperature)条件，用于性能分析（时序分析）。 Voltage & Temperature ...
原文：【整理中】IC 失效机理（CMOS工艺）
IC 四种常见失效机理如下： EM electron migration，电子迁移TDDB time dependent dielectric breakdown，与时间相关电介质击穿 经时击穿NBTI negative bias temperature instability，负偏置温度不稳定性HCI hot carrier injection，热载流子注入其中，EM 和 TDDB 会导致随机的 ...
2020-02-05 11:53 0 1778 推荐指数：
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