DFT测试-OCC电路介绍
SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常，我们所说的DCSCAN ...
原文：DFT测试-OCC电路介绍
https: www.jianshu.com p f a bcaefb e SCAN技术，也就是ATPG技术 测试std logic, 主要实现工具是： 产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX 插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。 通常，我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢 ...
2019-10-20 22:05 0 791 推荐指数：
相关推荐
DFT介绍
1. 可测试性特点 可控性：能够设定某些电路节点到某种状态或逻辑值 可观察：能够观测芯片内部节点的状态或逻辑值 2. 如何测试 1）建立模型 电路建模(circuit modeling) 故障建模(fault modeling) 2）ATPG ...
DFT scan chain 介绍
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan ...
MBIST DFT测试概念
参考博文：https://blog.csdn.net/fengxiaocheng/article/details/80904573 和 https://blog.csdn.net/u011729865/article/details/52756474 三种基本的测试（概念来自参考文档）： 1. ...
数字IC后端时钟树综合专题（OCC电路案例一）
一.OCC缘由 何为全速测试(at speed test)：在工艺节点在130nm以下的时候，很多情形下的物理缺陷都是由于延时来引起的。 因此在对这种类型的chip做dft的时候，需要建立一个新的故障模型，业内称之为延时故障模型（time delay model）。 解决的方法就是全速 ...
什么是可测试性需求（DFT）?
深圳市共创力资深顾问 杨学明/文 由于市场及产品用户对产品质量的要求越来越高, 各大企业加强了对产品可测试性需求的收集和控制，本文用于指导TSE及系统设计人员进行可测试性需求分析活动。 目前可测性需求一般有以下几方面的考虑: 1、面向产品的可测性需求，是为了提高 ...
DFT
Design For testability DFT(Design for Test):可测试性设计（DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易， 这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测 ...
DFT
1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group（JTAG）提出的，它的初衷是为了解决在PCB上各个大规模集成电路间的信号互联测试需求，所以往往也被叫做JTAG（JTAG ...