原文:[BLE]scan interval and scan window

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2019-06-02 10:23 0 482 推荐指数:

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scan & ATPG

Testability用来表征一个manufactured design的quality。 将testability放在ASIC前端来做,成为DFT(Design For Test),用可控(con ...

Sat Apr 09 03:23:00 CST 2016 1 2148
Redis之scan

keyspace查看各库的使用情况,用info memory查看内存的状况。同时也可以用keys和scan来查看k ...

Thu Dec 16 06:39:00 CST 2021 0 1584
HBase的Scan

HBase的Scan和Get不同,前者获取数据是串行,后者则是并行;是不是有种大跌眼镜的感觉? Scan有四种模式:scan,(Table)snapScan,(Table)scanMR,snapshotscanMR;前面两个是串行玩;后面两个是放置到MapReduce中玩;其中性能最好 ...

Sat Jul 21 06:32:00 CST 2018 0 2805
redis之Scan

scan 相比keys 具备有以下特点:1、复杂度虽然也是 O(n),但是它是通过游标分步进行的,不会阻塞线程;2、提供 limit 参数,可以控制每次返回结果的最大条数,limit 只是一个 hint,返回的结果可多可少;3、同 keys 一样,它也提供模式匹配功能;4、服务器不需要为游标保存 ...

Tue Oct 29 07:00:00 CST 2019 0 1601
scan chain的原理和实现——6.scan architecture

set_scan_configuration 此命令用于指定扫描属性,例如: 扫描方式、扫描链数或扫描链长度、处理多个时钟、lock-up、扫描链中省略的寄存器。 set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop I lssd l ...

Sat Dec 26 22:27:00 CST 2020 0 509
SQLSERVER中的ALLOCATION SCAN和RANGE SCAN

SQLSERVER中的ALLOCATION SCAN和RANGE SCAN 写这篇文章的开始,我还不知道ALLOCATION SCAN的工作原理是怎样的,网上资料少得可怜 求助了园子里的某位大侠,他看了我的信息几天之后才回复我,不过他的回复里没有答案 这几天一直在苦思冥想,后来终于通过动手 ...

Fri Oct 04 07:17:00 CST 2013 5 2239
DFT scan chain 介绍

现代集成电路的制造工艺越来越先进,但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制,甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,需要用到扫描链测试(scan chain),由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan ...

Mon Aug 16 01:45:00 CST 2021 0 252
scan>

<context:component-scan>:扫描指定包,如果发现有指定注解,那么该类将由Spring进行管理。 举例子: 一个简单的User类 一个简单的Person类 ...

Mon Jun 11 18:54:00 CST 2018 0 3009
 
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