SOC中的DFT和BIST对比与比较-IC学习笔记（二）
ATE：ATE是Automatic Test Equipment的缩写，根据客户的测试要求、图纸及参考方案，采用MCU、PLC、PC基于VB、VC开发平台，利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发、设计各类自动化测试 ...
原文：IC 设计中DFT的Boundary Scan功能
在很大规模的IC设计中，往往会有一些各种各样的bug出现，不论是在前期design的过程，还是在post silicon流片回来chip的flaw，都会导致chip的功能的失败，时钟频率无法达到期望频率。所以，在超大规模集成电路的设计中，DFT就是一门非常重要的方法学，在消费者手中，往往不知道他们的存在，但是在IC工程师眼中，DFT往往会是一个救命的稻草，让我们在芯片出问题的时候，可以知道从哪下手 ...
2019-04-24 16:07 0 683 推荐指数：
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DFT scan chain
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