DFT 问答(转)
Q: Boundary Scan是什么？应用场景是什么？实现的方法是什么？挑战是什么？ A: Boundary Scan就是边界扫描，是由Joint Test action Group起草的规范，最初是为了解决板级芯片之间的互联测试的问题，实现方法就是在芯片内部的每个I/O上面加上一个 ...
原文：【转】DFT小讲座之6_ATE测试扫盲
TE 从设计流程上来说，是DFT的客户。DFT逻辑设计的合理性，有效性乃至便捷性都需要通过TE的最终真刀实枪的上了机台才见分晓。 可以说TE是检测DFT成绩的最直接部门。 无论哪行哪业，要想做到出色，了解客户的需求是绕不开的一个大项。作为DFTer，了解TE的工作也是我们的必修课之一。 这一次， 我们很荣幸的请到了TE的资深团队给我做一下TE的最重要的工作，ATE 测试的一个扫盲。 TIPS T ...
2019-01-30 16:46 0 728 推荐指数：
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参考博文：https://blog.csdn.net/fengxiaocheng/article/details/80904573 和 https://blog.csdn.net/u011729865/article/details/52756474 三种基本的测试（概念来自参考文档）： 1. ...
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