DFT，可测试性设计--概念理解
工程会接触DFT。需要了解DFT知识，但不需要深入。 三种基本的测试（概念来自参考文档）： 1. 边界扫描测试：Boundary Scan Test: 测试目标是IO-PAD，利用JTAG接口互连以方便测试。（jtag接口，实现不同芯片之间的互连。这样可以形成整个系统的可测试性设计） 2. ...
原文：MBIST DFT测试概念
参考博文：https: blog.csdn.net fengxiaocheng article details 和 https: blog.csdn.net u article details 三种基本的测试 概念来自参考文档 ： . 边界扫描测试 boundary scan test。测试目标是IO PAD，利用jtag接口互连以方便测试。 jtag接口，实现不同芯片之间的互连。这样可以形成整个 ...
2018-11-27 19:40 0 4036 推荐指数：
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SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常，我们所说的DCSCAN ...
什么是可测试性需求（DFT）?
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