DFT scan chain 介绍
现代集成电路的制造工艺越来越先进，但是在生产过程中的制造缺陷也越来越难以控制，甚至一颗小小的 PM2.5 就可能导致芯片报废，为了能有效的检测出生产中出现的废片，需要用到扫描链测试（scan chain），由此产生了可测性设计即 DFT flow。 注意scan ...
原文：DFT介绍
. 可测试性特点 可控性：能够设定某些电路节点到某种状态或逻辑值 可观察：能够观测芯片内部节点的状态或逻辑值 . 如何测试 建立模型 电路建模 circuit modeling 故障建模 fault modeling ATPG Logic simulation Fault simulation Test generation 可测试设计 Design for test DFT ad hoc te ...
2018-09-04 14:57 0 1022 推荐指数：
相关推荐
DFT测试-OCC电路介绍
chain主要使用synopsys 的DFT compiler。 通常，我们所说的DCSCAN ...
DFT测试-OCC电路介绍
SCAN技术，也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是：产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX；插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常，我们所说的DCSCAN ...
DFT
Design For testability DFT(Design for Test):可测试性设计（DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易， 这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测 ...
DFT
1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group（JTAG）提出的，它的 ...
DFT与IDFT
【转】https://blog.csdn.net/mingzhuo_126/article/details/88044390 二.编程实现考滤到DFT和IDFT算法过程中有部分相似，可以把它们合成到一个算法。 下面验证此算法，对X(n ...
DFT 问答(转)
Q: Boundary Scan是什么？应用场景是什么？实现的方法是什么？挑战是什么？ A: Boundary Scan就是边界扫描，是由Joint Test action Group起草的规范，最 ...
DFT 问答 III
1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group（JTAG）提出的，它的 ...