原文:SOC中的DFT和BIST对比与比较-IC学习笔记(二)

ATE:ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求 图纸及参考方案,采用MCU PLC PC基于VB VC开发平台,利用TestStand amp LabVIEW和JTAG Boundary Scan等技术开发 设计各类自动化测试设备。 BIST:BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术,以此降低器件测试对自动测试设备 ATE ...

2018-08-06 18:03 0 4303 推荐指数:

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IC 设计DFT的Boundary Scan功能

在很大规模的IC设计,往往会有一些各种各样的bug出现,不论是在前期design的过程,还是在post silicon流片回来chip的flaw,都会导致chip的功能的失败,时钟频率无法达到期望频率。所以,在超大规模集成电路的设计DFT就是一门非常重要的方法学,在消费者手,往往不知道 ...

Thu Apr 25 00:07:00 CST 2019 0 683
Java对象的比较学习笔记

1)详细说明对象的比较方式有哪些? ①对象引用的比较("= ="运算符) "= ="是将对象的引用进行比较,实质是比较两个引用变量是否引用同一个对象。注意的点:字符串常量的比较时,JVM为同一个字符串常量只创建一个对象。 ②对象内容的比较(equals()方法) equals()方法是比较 ...

Sun Nov 10 19:59:00 CST 2019 0 538
【OpenCV学习DFT变换

作者:gnuhpc 出处:http://www.cnblogs.com/gnuhpc/ #include "cv.h" #include "highgui.h" #include "cxcore ...

Tue Oct 09 06:28:00 CST 2012 0 3903
VerilogHDL概述与数字IC设计流程学习笔记

一、HDL的概念和特征   HDL,Hard Discrimination Language的缩写,翻译过来就是硬件描述语言。那么什么是硬件描述语言呢?为什么不叫硬件设计语言呢?硬件描述语言,顾名思 ...

Tue Jul 25 21:39:00 CST 2017 2 7101
SOC学习历程概述

从开始接触soc到现在大概有两年半左右的时间了,经历了ORSOC到minsoc再到mkg-soc的搭建,以及现在的大小核系统的搭建 首先先讲下学习的前期需要具备的知识,前面3点是必须,后面3点可以中间学习的过程再学习。之所以有这些要求主要是以防中间的学习过程,有些东西看不懂而走弯路。 学习 ...

Sat May 30 07:34:00 CST 2015 1 1785
DFT

  Design For testability   DFT(Design for Test):可测试性设计(DFT)是一种集成电路设计技术,它将一些特殊结构在设计阶段植入电路,以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易,   这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测 ...

Sun Aug 30 23:12:00 CST 2020 0 593
IC设计学习路线

一 前言 (一)自我唠叨: 一直以来都是这也想学那也想学,搞个两三个月又放弃了,开始搞新的,从来没有任何东西超过一年,更不要说坚持三年。现在经历的事情多了,学过各种编程语言明白了要想学会一个专业技能,至少是三年。得到软件上吴军老师,对于学习的原则为系统性学习,谷歌 ...

Mon Oct 11 21:07:00 CST 2021 2 6019
DFT

1.Boundary scan Boundary Scan就是我们俗称的边界扫描。Boundary Scan是上世纪90年代由 Joint Test Action Group(JTAG)提出的,它的 ...

Fri Sep 11 22:58:00 CST 2020 0 444
 
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