什么是可测试性需求（DFT）?
深圳市共创力资深顾问 杨学明/文 由于市场及产品用户对产品质量的要求越来越高, 各大企业加强了对产品可测试性需求的收集和控制，本文用于指导TSE及系统设计人员进行可测试性需求分析活动。 目前可测性需求一般有以下几方面的考虑: 1、面向产品的可测性需求，是为了提高 ...
原文：DFT，可测试性设计--概念理解
工程会接触DFT。需要了解DFT知识，但不需要深入。 三种基本的测试 概念来自参考文档 ： . 边界扫描测试：Boundary Scan Test: 测试目标是IO PAD，利用JTAG接口互连以方便测试。 jtag接口，实现不同芯片之间的互连。这样可以形成整个系统的可测试性设计 . 内建自测试BIST: 模拟IP的关键功能，可以开发BIST设计。一般情况，BIST造成系统复杂度大大增加。memo ...
2017-07-10 21:49 0 5012 推荐指数：
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