DFT
Design For testability DFT(Design for Test):可测试性设计（DFT）是一种集成电路设计技术，它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易， 这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和观测 ...
原文：DFT设计绪论
DFT设计的主要目的是为了将defect free的芯片交给客户。 产品质量，通常使用Parts Per million PPM 来衡量。 但是随着IC从SSI到VLSI的发展，在test上花销的时间越来越多，test的quality却很难提高，这使得DFT的engineer不断的发展着DFT的技术。 DFT engineer面对的第一个问题是设计内部的状态的可测试性问题。在 年间，提出了ad h ...
2016-06-22 19:42 2 3724 推荐指数：
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