Scan and ATPG (Tessent)----1.基础概念
1、测试的目的 筛选出有错误的芯片。 2、测试的类型 功能测试——验证电路的功能。 制造测试——验证设计有没有制造缺陷 制造试验类型： 扫描测试、扫描压缩测试、BIST(Memory test、Logic test) 3、什么是scan test 使内部电路可控、可观 ...
原文：scan & ATPG
Testability用来表征一个manufactured design的quality。 将testability放在ASIC前端来做，成为DFT Design For Test ，用可控 controllable 可观 observable 来表征。 DFT的实现的两个大方向：ad hoc和structure。 ad hoc：利用良好的设计习惯，来保证testability。减少无关逻辑，异步 ...
2016-04-08 19:23 1 2148 推荐指数：
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